Validação de modelos matemáticos de sensores piezoresistivos baseados em filmes finos

DSpace/Manakin Repository

Validação de modelos matemáticos de sensores piezoresistivos baseados em filmes finos

Show full item record

Title: Validação de modelos matemáticos de sensores piezoresistivos baseados em filmes finos
Author: Moi, Alberto
Abstract: Este trabalho mostra os estudos teóricos sobre a caracterização do efeito piezoresistivo em filmes finos semicondutores, em especial, o silício tipo P e tipo N. Usa-se modelos matemáticos e simulação computacional, a partir de dados experimentais, para validar e aperfeiçoar os modelos matemáticos existentes na literatura para elementos sensores piezoresistivos baseados em filmes finos semicondutores. Neste trabalho é modelado o comportamento eletromecânico e térmico de um piezoresistor feito de silício policristalino tipo P e os resultados são comparados com aqueles mostrados, classicamente pela literatura, para o silício.
Description: 90 f.
URI: http://bibliodigital.unijui.edu.br:8080/xmlui/handle/123456789/2245
Date: 2014-05-28

Files in this item

Files Size Format View Description
Dissertação Final Alberto Moi.pdf 2.338Mb PDF View/Open Dissertação

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account